鍍層測厚儀是對加工業(yè)和精細(xì)工業(yè)產(chǎn)品表層進(jìn)行準(zhǔn)確測量使產(chǎn)品的質(zhì)量達(dá)到高品質(zhì)的重要設(shè)備手段，我國為了使我們的產(chǎn)品能夠有化的水準(zhǔn)，于是對測厚儀都提出了非常明確高指標(biāo)的要求，以此來規(guī)范的避免影響測厚儀測量的因素，下面小編來給大家介紹一下影響測厚儀測量的因素究竟有哪些。

　　

　　影響鍍層測厚儀測量的因素有哪些

　　

　　1、基體金屬的選擇

　　

　　基體金屬的選擇于試件的測試是息息相關(guān)的，首先專業(yè)的鍍層測厚儀分有磁性方法和渦流方法，兩種方法對于測厚儀的基體金屬標(biāo)準(zhǔn)片都有不一樣的磁性和電性要求，必須要對號入座的進(jìn)行測量匹配，并且基體金屬的厚度對于我們的測量也有一定的影響。

　　

　　2、測試時的環(huán)境和條件

　　

　　測厚儀一的測試本身是非常方便的，它的出現(xiàn)很大程度上提高了我們對于產(chǎn)品測量的效率，但是我們在測量的時候需要注意到測量的環(huán)境以及必要的測量條件，首先我們需要注意測量時周圍的磁場環(huán)境，磁場過高或不穩(wěn)定都會對我們的測量數(shù)據(jù)產(chǎn)生影響，其次潮濕的環(huán)境也是不利于我們的測量，而基體金屬標(biāo)準(zhǔn)片與試件本身的一些條件也會影響到我們的測量數(shù)據(jù)，例如測厚儀基體金屬片表層的粗糙程度等等。

　　

　　3、邊界距離：當(dāng)探頭與被測樣品邊界、孔眼、空腔、其他截面變化出的距離小于規(guī)定的邊界距離時，由于渦流載體截面不夠?qū)a(chǎn)生測量誤差。所以，在靠近被測樣品邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。如果必須測量該點(diǎn)的覆層厚度時，需預(yù)先在相同條件的無覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　

　　4、表面粗糙度：粗糙的表面會導(dǎo)致系統(tǒng)誤差，對于粗糙的表面應(yīng)進(jìn)行多點(diǎn)多次測量，然后取平均值以獲得較客觀的數(shù)據(jù)。基體金屬和覆蓋層的粗糙度越大，對測量結(jié)果的影響也越大，因此要使基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5%。

　　

　　5、測量時的一些其它影響因素

　　

　　我們在進(jìn)行測量的時候要注意到試件表面要保持清潔不能有異物遮擋，并且即便是可信賴的鍍層測厚儀在測量時也都容易受到一些突然變化的影響所以我們要避免在試件的曲面和邊緣進(jìn)行測量。

　　

　　我們選擇到了一個高品質(zhì)的度量測厚儀并不意味著我們的測量數(shù)據(jù)就會一定的準(zhǔn)確，因為在測量過程中總會有一些細(xì)微的影響因素需要我們?nèi)プ⒁猓挥刑幚砗眠@些影響因素才會使我們的鍍層測厚儀能夠發(fā)揮出其應(yīng)有的作用。